直流低電阻測(cè)試儀 電阻準(zhǔn)確度校準(zhǔn)

開機(jī)預(yù)熱15分鐘后，連接測(cè)試夾具，將測(cè)試夾具短路清零后開始測(cè)量。若在測(cè)量小電阻時(shí)應(yīng)將測(cè)試夾具夾在一短路銅片上進(jìn)行清零，而不能直接短接路測(cè)試夾具，且測(cè)試夾具必須在同一側(cè)，短路片*好用10*5*3紫銅片或其它導(dǎo)電良好的材料，兩夾具頭在短路片上應(yīng)盡量靠近。正常測(cè)量時(shí)，也不要將夾具任意翻動(dòng)。

在對(duì)單個(gè)被測(cè)物進(jìn)行測(cè)量時(shí)，等待儀器自動(dòng)跳檔，當(dāng)選到合適檔位后讀取數(shù)據(jù)。對(duì)同一種被測(cè)物進(jìn)行測(cè)量，測(cè)**個(gè)產(chǎn)品，待數(shù)據(jù)穩(wěn)定后將量程鎖定，下次測(cè)量時(shí)儀器就固定在該量程進(jìn)行測(cè)量，這樣能提高測(cè)量速度及儀器使用壽命。

  若儀器內(nèi)部存貯器更換過，則必須對(duì)存貯器進(jìn)行刷新，不然不能保存校準(zhǔn)數(shù)據(jù)及設(shè)置數(shù)據(jù)，其方法為：開機(jī)按UP（▲上）鍵，訊響一聲后松開上鍵再按DOWN（下▼）鍵，等待3 S后松開下鍵即完成對(duì)存貯器的刷新。若對(duì)存貯器的刷新不成功，則每次開機(jī)均會(huì)訊響兩聲。刷新后為默認(rèn)校準(zhǔn)。

進(jìn)入校準(zhǔn)：開機(jī)按設(shè)置鍵，訊響一聲后松開設(shè)置鍵再按開始鍵，等待3 S后松開開始鍵，待面板顯示“－CAL－"后再按任意鍵(開始鍵除外)進(jìn)入電阻校準(zhǔn)模式。

進(jìn)入校準(zhǔn)前提：能正常測(cè)量，且已老化過。

校準(zhǔn)時(shí)其它功能均正常，僅不能設(shè)置分選數(shù)據(jù)。

校準(zhǔn)范圍為量程電阻值±10%。

校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)電阻：10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、100Ω、1KΩ、10KΩ、100KΩ、1MΩ，精度高于0.02%，校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)電阻根據(jù)其儀器型號(hào)不同有所選擇。其標(biāo)準(zhǔn)電阻選擇如下表：

注意：校準(zhǔn)時(shí)不要選百分比顯示方式，測(cè)試速度為慢速，校小電阻時(shí)應(yīng)正確清零。

校準(zhǔn)時(shí)測(cè)試線夾上標(biāo)準(zhǔn)電阻，待測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定后按設(shè)置鍵，聽到蜂鳴器訊響一聲后松開設(shè)置鍵即完成一個(gè)量程的校準(zhǔn)，更換其它標(biāo)準(zhǔn)電阻，直到所有的量程均校準(zhǔn)后按開始鍵，等待3 S后顯示“―End―"按任意鍵退出校準(zhǔn)進(jìn)入測(cè)量。

若未按開始鍵后未顯示“―End―"就退出校準(zhǔn)則校準(zhǔn)數(shù)據(jù)不保存，下次開機(jī)還是默認(rèn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。若某一量程未校準(zhǔn)準(zhǔn)確，則可用上面方法對(duì)單個(gè)量程重新校準(zhǔn)即可。

校準(zhǔn)時(shí)若測(cè)量數(shù)據(jù)大于該量程值(標(biāo)準(zhǔn)電阻)的±10%則訊響兩聲表示校準(zhǔn)出錯(cuò)，若校準(zhǔn)10mΩ檔與100mΩ檔請(qǐng)先清零再校準(zhǔn)，否則底數(shù)會(huì)影響準(zhǔn)確度。

校準(zhǔn)數(shù)據(jù)保存在EPPROM中，開機(jī)將檢查EEPROM的好壞，若損壞不能讀寫，則訊響兩聲，而校準(zhǔn)數(shù)據(jù)設(shè)置分選數(shù)據(jù)等都用默認(rèn)值，要修改這些數(shù)據(jù)都要重新設(shè)置或校準(zhǔn)。開機(jī)時(shí)讀出校準(zhǔn)數(shù)據(jù)不對(duì)則也使用默認(rèn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)并訊響兩聲。若去掉EEPROM后能正常測(cè)量，僅測(cè)量精度在0.3%以內(nèi)，分選數(shù)據(jù)每次重新開機(jī)都要重新設(shè)置，若EEPROM損壞可換新，并對(duì)存貯器刷新后重新校準(zhǔn)與設(shè)置分選極值即可。